Análisis en profundidad de capas de témperas utilizando microscopía de fluorescencia de excitación multifotónica

Análisis en profundidad de capas de témperas utilizando microscopía de fluorescencia de excitación multifotónica

El Laboratorio Láser de Ciencia de Patrimonio (LLHS-IQFR) de la PTI-PAIS,  ha publicado un artículo sobre el uso de la microscopía óptica no lineal (NLOM), específicamente en la modalidad de fluorescencia de excitación multifotónica, para caracterizar el espesor de capas de pintura a la témpera.
La obtención de imágenes 3D de capas pictóricas de forma no invasiva representa un desafío en el campo del Patrimonio Cultural. Gracias a la utilización de esta técnica microscópica, basada en el uso de láseres ultrarrápidos, ha sido posible caracterizar de forma no invasiva las capas de témpera en función de la profundidad por debajo de la superficie.

Contenido del artículo íntegro.


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